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「JFE商事エレクトロニクス株式会社 登録製品一覧」
JFE商事エレクトロニクス株式会社 登録製品一覧
- 対象件数5件
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膜厚分布測定装置
最大150万点の膜厚分布を短時間で測定できる膜厚分布測定装置です。イメージング分光器 ImSpector(インスペクター)を用いて、測定対象表面の薄膜の分光スペクトルを「面」として一度に測定し、画素ごとのスペクトルを独自アルゴリズムにより解析して膜厚の分布を高解像度かつ高精度に測定します。膜厚が「面」として観察できる特長を生かし、製造条件の違いによる膜厚分布の微妙な変化の把握や膜厚分布と製品性能の評価に、また、生産現場での製品の評価・検査に、広く活用できます。
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HIAC 液中パーティクル計測器
HIAC SYSTEM 8103 高レベルの精密測定を行なえる
HIAC SYSTEM 8011 あらゆるニーズに対応できる
HIAC SYSTEM 9703 21CFR Part11対応システム -
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ハンドヘルド式蛍光X線元素分析装置 Alloy Version
【特 長】
・ハンドヘルド式小型のため、現場での使用に最適
・最速2秒で41元素を同時分析
・高い計数率250kpcsの高感度SDD検出器を標準搭載
・専用FPプログラム入力済みで検量線作成不要
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表面粒子測定器 Pentagon SPD QIII+
【特長】
■0.3μm感度
■簡単な操作と迅速な測定
■ハンディタイプ
■バッテリー駆動
■Ethernet対応
■各種プローブ
■定性分析のための測定後粒子の捕捉(オプション)