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製品詳細
JFE商事エレクトロニクス株式会社
表面粒子測定器 Pentagon SPD QIII+
検査機器 工場内環境対策機器/設備 環境測定 その他 分析機器 その他理化学関連機器 その他 トランジスタ/IC/LSI/超LSI フラットパネルディスプレイ用装置 検出/測定装置 プロセス装置 気体 FPD材料 マスク製作材料 プロセス材料 ウェーハ基板 構成要素/部品 その他 評価/計測機器 MEMSペンタゴンテクノロジーズ製QIII+ Surface particle detectorは、表面上にあるパーティクルを数秒で計測する事が出来ます。よって、定期メンテナンス時のウェットクリーニング後の清浄度(品質)を、チャンバーの再開放なく毎回同じ品質にする事が可能となります。つまり、経験と勘に頼らずに確実なメンテナンス手法を確立する事へとつながり、効率的なメンテナンスを行う事が出来るようになります。また、洗浄再生部品の出荷前・受入検査等にも使用できます。
【特長】
■0.3μm感度
■簡単な操作と迅速な測定
■ハンディタイプ
■バッテリー駆動
■Ethernet対応
■各種プローブ
■定性分析のための測定後粒子の捕捉(オプション)
- JFE商事エレクトロニクス株式会社
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【所在地】〒100-0004東京都千代田区大手町2-7-1JFE商事ビル
【電話番号】03-5203-5648 【FAX番号】03-5203-5626
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