●製品の不具合原因をすばやく見つけたい

●簡単に管理図を書きたい

●実験の回数を減らしたい

●歩留まりを向上させたい

●報告資料用のグラフを描くのが面倒

●データ集計に掛かる時間を減らしたい

●難しいソフトはイヤ！

統計解析ソフトJMPなら数クリックでデータがグラフに

製品の不具合原因の解明、管理図作成もできます

【実験】

時間や予算制約を考慮し、問題に合った実験計画が作成可能。

また、実験結果を効率的に可視化・分析できます。

【工程管理】

工程データを素早く理解し視覚的にグループ化することでパターンをつかみ、製造工程の問題解決を行います。

［工程のスクリーニング］

一連の工程の中から不適合な工程や不安定な工程を素早く見つけ出し、注目した工程の管理図や工程能力レポートを簡単に作成できます。

［半導体ウェハー上の不良解析］

・階層型クラスター分析

空間における不具合の発生パターンをグループ分けできます。工程のパラメータ情報と突き合せれば、その原因を分析することも可能となります。

【実験】

時間や予算制約を考慮し、問題に合った実験計画が作成可能。

また、実験結果を効率的に可視化・分析できます。

【工程管理】

工程データを素早く理解し視覚的にグループ化することでパターンをつかみ、製造工程の問題解決を行います。

不具合原因を見つけたり、実験の回数を減らしたり、図やグラフも簡単に制作できます。

様々なデータから要因/傾向を即座に割り出し！



初年度１ユーザー年間165,600円からはじめられます！

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かんたん操作！

●実験計画 ●原因分析 ●品質管理●信頼性予測

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操作がカンタン！

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初年度１ユーザー　年間158,400円から始められます！