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（株）日本レーザー

ピエゾシステムイエナ社の光学機器〈ビームシャッター〉

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その他 分散装置 マーキング

ピエゾシステムイエナ社の光学機器
〈アプリケーション例〉

このセクションではビームシャッターにおけるピエゾアプリケーションの概要と推奨システムについて記述します。Piezosystem jena製品は光ビームやX線及びシンクロトロンアプリケーションで使用できます。

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（株）日本レーザー

【所在地】〒169-0051東京都新宿区西早稲田２－１４－１

【電話番号】03-5285-0861 【FAX番号】03-5285-0860

【URL】https://www.japanlaser.co.jp/

製品選定でお悩みの際は、日本レーザーまでご連絡ください。　03-5285-0861

ピエゾシステムイエナ社の光学機器〈アプリケーション〉
－ビームシャッター－

アプリケーション	推奨システム
光学ビーム	X軸ステージ　PX1500 シャッター／スリットシステム　PZSシリーズ
X線＆シンクロトロン応用	シャッター／スリットシステム　PZSシリーズ

X線コリメーション用製品

Lawrence Berkley National Lab Beamlineの構築に用いられたPureEdge 240

現在X線顕微鏡に採用されている結晶学やX線小角散乱による手法では、非常に良好なコリメート光が求められます。X線システムでのS/N比を最適化するためには、開口径をサンプルサイズにできる限り一致させる必要があります。
ほとんどのX線システムにはタングステンやタンタルディスクを材料にドリルやレーザーアブレーションで穴あけしたピンホールアパーチャが使用されています。実際には各サンプルサイズに応じてピンホールを交換しなければなりません。
PureEdge システムを用いると、可変アパーチャとビジュアルアライメントツールを組合せた散乱のほとんどないビームコリメーションが実現できます。

	互換性及び柔軟性

	いかなるラボアップグレードでも統合しやすさは重要です。piezosystem jena社のシステムはコンパクトサイズで、使用中のビームラインや他のX線ソースへのドロップイン組込みに便利です。

	新しい PureEdge X線コリメータ - Lawrence Berkeley National社と共同開発

	PureEdge 240 コリメータは、ビームライン 12.3.1 へのアップグレード部品として、Lawrence Berkeley National と共同で開発した製品です。結晶サンプルのサイズ変更に応じてアパーチャサイズが整合され、データ取得中S/N比が最適化されます。本技術開発の背景にあるコンセプトは、面倒な異なるサイズのピンホールアパーチャの交換に代わって、制御可能な二重スリットデザインを導入しようとするものです。このデザインで高い安定とX線散乱特性の改善が見られました。また初期のアライメント技術における進歩は、この新しいコリメーションコンセプトの一部を担っています。

	●	FEA最適化ガイダンスを用いた正確な平行運動
	●	特許の固体ヒンジで機械的遊びのない（バックラッシュ無し）モーションを実現
	●	独立の2エッジペア・アパーチャコントロール：最大240μm。クローズドループ制御
	●	16ビットまたは20ビットコントロール
	●	超低散乱

◆主な応用例

	●	X線結晶学
	●	X線コリメーション
	●	X線小角散乱（SAXS）

◆PureEdgeの主な利点

piezosystem jena社のPureEdge コリメータには今日利用できる既存技術をはるかにしのぐ多数の利点がございます。

	●	速度 - PureEdgeシステムは、必要であれば高速シャッタとして10 Hz以上で連続的にクローズド操作できます。
	●	精度 - PureEdgeシステムは8 nm 未満の分解能で、市販のバリアブルアパーチャシステムで最も正確です。
	●	純度 - PureEdge コリメータは散乱がほとんどありません。Scatterguard Viewportアクセサリで余計な散乱を最小化しています。
	●	接続性 - PureEdge デザインのオープンアーキテクチャでさまざまなX線システムへ容易に統合できます。サイドのマウントホルダに任意のまたはpiezosystem jena社のアクセサリを取り付けられます。システム全体を真空仕様で提供できます。
	●	コンパクト – 小さな外形（85 x 85 mm）でスペースの限られた既存システムへの統合が容易です。

ピエゾシステムイエナ社の光学機器〈アプリケーション例〉


ビームシャッター	光ファイバ	ライフサイエンス（生命科学）

マテリアルサイエンス（物質科学）	機械工学	計量学

顕微鏡検査	ナノ位置決め	光学

半導体	バルブ技術	オートフォーカス装置（自動焦点装置）