高品質　少量・多品種充実のラインナップ　全点即納体制　豊富なラインナップから必要なばねを、1点からでもご注文いただけます。

ニーズに沿った選択、適用法のご提案　固体被膜潤滑材はオーダーメイドもできます。　油、グリースではカバーできない！　設計でもどうにもならない！　材料でも対応できない！

イソラストは半導体製造工程で求められる耐候低温性（-25℃～+325℃）、耐薬・耐ガス性、耐プラズマ性、真空シール性、非固着性に応える為、開発された高性能パーフロロエラストマーシールです。メンテナンス感覚の長期化とシール問題発生リスクの低減によるメンテナンスコストの大幅低減、シール交換コストの低減と生産性の向上、シールの統一化に伴うコスト低減を可能にします。

金属ダイキャスト品と同等の寸法精度　　小ロット対応可能　樹脂とガラスの境界面の段差ゼロ　省スペース、部品点数削減

抜群のクッション性　均一な厚み精度　表面は20μの特殊エンボス加工　長尺品が可能、微細打ち抜き品が可能　耐熱、耐寒性、耐老化性、弾性回復性　標準品は在庫即納、特注品も生産可能

高粘度[5,000cp以上]と超低粘度[10cp以下]の測定でお困りの方、ご連絡下さい！！　ロングセンサーもOK！　この粘度計は使えます！幅広いアプリケーションに利用でき面倒な保守点検も殆ど不要です。

電気を使用せずに低圧の圧縮エアー（1MPa以下）2倍（1.6MPa）、4倍（2MPa）の高圧エアーが得られます。　　電気を使用せずに低圧の圧縮エアー（1MPa以下）から圧縮エアー量は1.4～5.2倍に、推進力は1.2～24倍に増幅します。

ＡＣ100～200Ｖ対応！　超低振動を実現！　取付・操作性が向上した新デザイン！

優れた耐放射線性、耐薬品性、低アウトガス等の特長も有しています。　高耐熱の「260℃以上」は、JCN6230の結晶化時の荷重たわみ温度です。　高強度の「21,870MPa」は、JCN6230の結晶化時の曲げ弾性率です。　軽量の「.33g/ml」は、PL450およびその他ナチュラル品の比重です。

ISO9001（品質）、ISO/TS16949（自動車）、ISO13485（医療機器）、ISO22001（食品）に求められる計測器管理のご相談承ります。　ISO/IEC17025の認定及びISO-9001を認証取得した万全の品質管理のもとで、スピーディに高信頼性の校正受託サービスを行っております。*ISO/IEC17025の校正はお引取の対応となります。校正のご依頼は“信頼と貢献”の東洋テックにお任せください。　　メーカーを問わず、度量衡から電気・電子計測器まで、広範囲な計測器を校正受託したします。　出張

このピンは細い！　Φ20μまで　　追及されたこの制度！　寸法精度、真円度、同筒度　段付きピン先端寸法公差±0.1μmまで　ストレートピン寸法公差±0.05μmまで　　段付き形状の多様さと精密さ！　先端微小特殊形状等

新規装置の設計開発～製作までTOTALで引受けます。既存設備の改造も御相談下さい。

専任合成チームにより、迅速な対応が可能になりました　弊社の技術を皆様の手足としてお使いください　試薬メーカーとして、半世紀にわたり培った技術・ノウハウで、あらゆるご要望にお答えします　特殊反応を含めた複雑多岐にわたる合成への対応　試薬レベルの高純度品の提供　一般反応装置群に加え、特殊反応装置や専用工場群を保有しているので、様々な反応に対応できます

出展をご検討の方は至急ご返送ください　第15回フラットパネルディスプレイ研究開発・製造技術展　第1回Display2005　国際フラットパネルディスプレイ商談展

比率計量から、混合、撹拌、吐出までを自動で行う　新型コンパクトデザイン　超高精度を実現　自動吐出調整で手間いらず　様々な樹脂に対応　安定した混合吐出　使い易いインターフェース

600mmストローク新登場！！　高精度・高信頼の変位検出に対応。　差動変圧器の精度限界に挑戦　LT2型はLTシリーズの特長である、コンパクト、高精度、高安定に加え、LT1型を上回る耐環境性能と堅ろう性を備えた新型変位センサです。

短納期！　お届けは2日以内可能　複雑な部品がフォトエッチング加工によって実現。リードフレーム、エンコーダー、端子、メタルマスク等の電子部品に応用。板厚0.003～2.5mm

即納体制　g6公差　耐食性に優れたSUS304^g6シリーズ追加（3φ殻φ：2000mm　6φから0φ：3000mm）

ラブスフェア社の積分球は日本を含め世界でもっとも多く使われています。あなたがいつかどこかで見た積分球もきっとラブスフェア社製です。　　ランプ全光束の測定　LEDの全光束、全出力の測定　LCDバックライト全光束の測定　ファイバー光源出力の測定　全反射光・全透過光の測定　LCD反射測定のための拡散照明　量子効率の測定　CCDカメラシステムの校正