陰極に高安定キセノンランプと同様の「高性能ＢＩカソード」を採用し、高安定で長寿命という特長も兼ね備えています。 特長 ■アーク発光点移動なし ■高安定 　 フラツキ(p-p)：0.5 % Typ.、2.0 % Max.　 ドリフト：±0.5 %/h Typ. ■長寿命 ■低ワット入力からのラインアップ ■高輝度・点光源 ■高い紫外線強度 用途 ■ウェーハ検査装置 ■半導体露光装置 ■蛍光顕微鏡用照明 ■血液分析計 ■紫外線照射装置　等

独自に開発した高性能ＢＩカソードの採用により、光出力の安定性を高め長寿命化も実現しています。 特長 ■アーク発光点移動なし ■高安定 　　フラツキ(p-p)：0.2 % Typ.、1.0 % Max.　 ドリフト：±0.5 %/h Typ. ■長寿命 ■低ワット入力からのラインアップ ■高輝度・点光源 ■高い色温度　　6000K 用途 ■分光光度計 ■液体クロマトグラフ ■蛍光光度計 ■顕微鏡用照明 ■色彩測定器、カラースキャナ ■ソーラシミュレータ　等

横64ドットｘ縦32ドットの高解像度により、精細画像を実現。広視野角、高コントラストのFSTN液晶。バックライト色は64色、輝度は8段階。放送・音響機器、情報管理システムなど幅広い分野で活用可能。表示モジュールもラインナップ。

大電流用コネクタ”カムロック”は溶接、ヒーター、照明等の大電流機器に最適です。 発熱が少なくコンタクトの信頼性が優れています。 また、カムロック機構は一度結合させると振動、引張りに耐え使用中ゆるむ事はありません。

充実した各種ドライバー、豊富なユーティリティの提供が可能。 インターフェイスに有線ＬＡＮも加わり、更に便利になります。

UV接着用途におけるランプ方式のスポット光源で培ったノウハウと、弊社が持つ半導体技術を融合・凝縮しました。　　 特長 365nm単色光源　 長寿命　 低消費電力：80VA以下　 LEDヘッド・ドライバはモジュール単位で購入可能

UV接着に最適なスポット光源です。 特長 PCで光源をコントロール　 強力な紫外線/可視光を照射　 メモリーステップ（プログラム照射）　 ワンタッチランプ交換　 ライトガイド接続前面/背面選択可能

現場での使用に最適な小型軽量設計。操作も簡単ですぐにお使い頂けます。

【特　長】 ・ハンドヘルド式小型のため、現場での使用に最適 ・最速2秒で41元素を同時分析 ・高い計数率250kpcsの高感度SDD検出器を標準搭載 ・専用FPプログラム入力済みで検量線作成不要

本装置は、ＬＥＤの製造・検査工程をさらに省力化できる専用外観検査装置として開発。外観検査においては多数の実績のあるＶｉシリーズの検査機能を踏襲し、高速・高性能検査を可能とした。また、ＬＥＤチップ検査では必須となるエキスパンドされたウェーハの検査に対応、テープフレームやグリップリングの搬送が可能。更に不良チップを高速に除去するピッキング機構や、透過照明などといったニーズに合わせた各種機能（オプション）も新規開発。簡単操作でＬＥＤの製造工程検査において最適な仕様を実現。これにより外観検査装置Ｖｉシリーズは，幅広い製品ラインナップを取り揃え，今後ますます複雑化，多様化する外観検査の自動化ニーズに柔軟に対応することが可能となっており、更にパワーデバイス等の省エネに貢献できるグリーンデバイスの検査ニーズにも対応可能となっています。【特長】高性能／高速検査：エキスパンドウェハ検査対応　簡単レシピ作成：ナビゲーション機能により短時間でレシピ作成　豊富なオプション：ピッカー、透過照明等

お客様のニーズに合わせた、他社にない製品をご提供致します。　 他にも、光ファイバーセンサ、画像センサ用バックライトなどで、独自設計、独自開発、自社製造品をご用意しております。

大電流用コネクタ”カムロック”は溶接、ヒーター、照明等の大電流機器に最適です。 発熱が少なくコンタクトの信頼性が優れています。 また、カムロック機構は一度結合させると振動、引張りに耐え使用中ゆるむ事はありません。

電源の超軽量化に成功！！　 特長　 1.従来光源と比べて2,3倍の強力な紫外線を発光、又発光がきわめて速い。　 2.無電極ランプの為、従来光源より2,3倍寿命が長い。　 3.マイクロ波式の為、熱（赤外線）が少なく、さらにコールドミラーで低熱化を計っている。　 4.ランプと反射板の交換のみで必要波長の選択ができる。　 5.装置の構造がシンプルで軽量且つコンパクト、特に電源が軽量化されている。 用途　 ＵＶインキ、コーティング、レジスト、接着剤の硬化、光化学反応、半導体製造プロセス、バイオ等の生産や研究用開発に最適。

大電流用コネクタ”カムロック”は溶接、ヒーター、照明等の大電流機器に最適です。発熱が少なくコンタクトの信頼性が優れています。また、カムロック機構は一度結合させると振動、引張りに耐え使用中ゆるむことはありません。

お客様のニーズに合わせた、他社にない製品をご提供致します。　他にも、光ファイバーセンサ、画像センサ用バックライトなどで、独自設計、独自開発、自社製造品をご用意しております。

お客様のニーズに合わせた、他社にない製品をご提供致します。　他にも、光ファイバーセンサ、画像センサ用バックライトなどで、独自設計、独自開発、自社製造品をご用意しております。

ランプの全光束測定　LEDの全光束測定及びピーク波長・主波長等の演算　LCDバックライトの全光束測定　PL分光法により高精度に測定　UV励起光はDark測定用にOn/Off制御　「分光放射照度標準電球」で絶対値校正　自己吸収の影響が無い装置構成　専用ソフトウェアによる簡便な操作

予算でお困りですか？

お客様のニーズに合わせた、他社にない製品をご提供致します。　他にも、光ファイバーセンサ、画像センサ用バックライトなどで、独自設計、独自開発、自社製造品をご用意しております。

測定周波数4KHzの高サンプリング　干渉原理使用　光源：SLDを使用　品質管理及びインラインモニタリングに　1つのプローブで非接触にて厚み計測可能　システム統合も可能　各種インターフェイス用意しPCに取込が容易（RS232、USB、analog output等）　測定レンジ：10μm-1mm　左記より薄膜にも対応可能です　精度：0.3μm