非接触測定でお困りの方、お待たせいたしました！

Ｓｉ及びＧａＡｓ、ＳｉＣ、サファイア等の非接触厚み測定に最適。

＜ＣＨＲｏｃｏｄｉｌｅ　ＩＴ１８－３０００＞

●Ｓｉ、ＧａＡｓ、ＳｉＣ、サファイア等半導体ウェハ以外にもフイルム、樹脂膜、接着剤、ガラス、ギャップセル、太陽電池等各種膜の非接触厚み測定に最適。

●加工プロセスにおいてリアルタイムでインプロセス厚み測定対応可能。