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製品詳細
オリンパス(株)
近赤外顕微分光測定機 USPM-RU-W
幅広い波長領域での多機能で高精度・高速な分光測定が可能
380nm~1050nmの幅広い波長領域での多機能で高精度・高速な分光測定が可能
●微小領域の反射率測定が可能
対物レンズで試料面に微小スポットを投射することで微小部分の測定が可能。
●短い測定時間 スピーディーで再現性の高い現物測定が可能
●裏面からの反射光をカット 裏面反射の影響を受けずに薄肉試料の反射率の測定が可能。
【主な用途】
・球面・非球面レンズ、平面光学素子の反射率測定、物体色測定、膜厚測定
・平面光学素子の透過率測定
・LEDリフレクタ、半導体等の微細部の反射率測定
【仕様】
・測定波長:380~1500nm
・反射率測定
・透過率測定
・45度反射率測定
・測定方法:リファレンス試料による比較測定
・反射測定試料厚さ:最薄0.2mm
・試料の曲率半径:+1R~∞ -1R~∞
・測定範囲:約φ17~70μm(対物レンズによる)
・光源:専用ハロゲンランプ
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【所在地】〒163-0914東京都新宿区西新宿2-3-1新宿モノリス
【電話番号】03-3340-2078 【FAX番号】03-3340-2322
