電子部品などの微少領域の反射率測定に最適
短時間で簡単に測定が可能

・微少領域の反射率測定が可能
対物レンズで試料面に微少スポットを投射することで微少部分の測定が可能。

・短い測定時間
スピーディーで再現性の高い現物測定が可能。

・裏面からの反射光をカット
裏面反射の影響を受けずに薄肉試料の反射率の測定が可能。

【主な用途】
・LEDのリフレクタの反射率測定
・光学部品のコーティング面の反射率測定
・太陽電池のセル反射率測定
・LEDデバイス、半導体基板等の微細部の反射率測定

【仕様】
・測定波長：380nm〜780nm(特注：440nm〜840nm)
・光源：ハロゲンランプ
・測定方法：リファレンス試料による比較測定
・試料の曲率半径：-1R〜-∞、+1R〜∞
・測定範囲率：約Φ60μm(10×対物レンズ)、約Φ30μm(20×対物レンズ)