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製品詳細
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株式会社AndTech
『LED用封止材料の劣化と対策および信頼性設計・評価法』
光学測定 試験機器 ラボ用器具/設備 検査機器 静電気/ノイズ対策 温度 工業用カメラ 組立装置 実装機器/システム 工場内環境対策機器/設備 環境関連計測機器 化学系 その他 分析機器 その他理化学関連機器 デジタルパネルメータ 信号変換機 その他 モニタ 湿度 水分 光 磁気 その他 トランジスタ/IC/LSI/超LSI ダイオード 発光ダイオード コンデンサ プリント基板 その他 アクセサリ その他 レンズ 光源/照明 画像処理ボード 画像処理機器 画像処理周辺機器 画像記憶/記録装置 画像出力機器 画像伝送機器 画像計測/解析機器 画像素子/部品 画像処理ソフト その他 撮影機器 フラットパネルディスプレイ用装置 検出/測定装置 プロセス装置 試験装置 一般装置 材料組立 薬品/固体 気体 FPD材料 マスク製作材料 プロセス材料 ウェーハ基板 材料試験 構成要素/部品 その他 製造設備/コントロールシステム その他 その他 その他 構成部品 その他 素形材/成形材 その他 ファインセラミックス 超電導材料 電子/半導体材料 その他素材/材料 ガラス 耐熱材料 省エネ対策 その他 監視用映像機器 その他セキュリティ製品 メカトロニクス MEMS その他 計測/試験/検査/分析 その他 画像解析 その他 光学機器 光伝送装置 無線伝送機器 有線伝送機器 映像/放送機器 電気系 その他食品機械/補助機械【6月28日】
本セミナーでは、LED及びその封止方法に関して解説し、LEDの信頼性の特徴、寿命評価に関する標準化の動きを述べ、LEDシステムの信頼性設計では寿命の統計的データが重要であることを述べます。
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- 株式会社AndTech
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【所在地】〒214-0032神奈川県川崎市多摩区枡形6丁目16番17501号
【電話番号】050-3538-1954 【FAX番号】050-3658-0119
★発光波長によるLEDの発熱量は!?最新の高輝度LEDの開発動向は!?
★LED寿命評価とLEDシステムの信頼性設計!
『LED用封止材料の劣化と対策および信頼性設計・評価法』
セミナーお申込はページ右下の項目を設定後、“カゴにいれる”で手続き開始となります
2 LEDの性能と信頼性がいかに温度に敏感に影響されるか
3 接合温度の推定と熱抵抗測定法
4 VFの温度係数の理論的背景
5 Heating Curve とその解析
6 過渡熱抵抗のLED実装不良検出への応用
■先生にご相談可能な項目
信頼性評価技術:アレニウスモデル、活性化エネルギー、寿命評価、故障率評価
熱抵抗測定技術:接合温度の推定法、過渡熱抵抗測定、K-Factorの理論的背景
LEDの故障物理:光束劣化機構、色度変化、温度とLEDの電気的・光学的特性
【質疑応答・名刺交換】
セミナー概要
セミナー番号 | S00622 |
講 師 | 第1部 有限会社アイパック 代表取締役 越部 茂 氏 第2部 (株)テクノローグ 金森 周一 氏 |
対 象 | LEDに関連する技術者・研究者など |
会 場 | 産業振興会館 第2会議室 【神奈川・川崎】 |
日 時 | 平成22年6月28日(月) 12:30~16:15 |
定 員 | 30名 ※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。 |
聴講料 | 1名につき42000円(税込、テキスト費用・お茶代含む) 初めてお申込みいただいたお客様は1名につき40000円(税込、テキスト費用・お茶代含む) ⇒要無料会員登録 |