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製品詳細
オリンパス(株)
レーザー干渉計 KIF-20-UW
量産レンズの迅速な品質検査と数値化管理に最適
・ニュートン評価タイプの干渉計システム
同仕様レンズの大量生産現場に適したシステムです。
・干渉縞数値化ソフトウェア付のパソコンを標準装備
従来の干渉縞観察に加え、干渉縞から収差を数値化表示することも可能。
・参照レンズにアリ溝マウントによる着脱式を採用
参照レンズの交換が簡単に短時間で可能となり、生産効率の向上に貢献。
【仕様】
・測定方式:フィゾー型干渉方式
・口径:φ60(オプション使用時φ6~φ60)mm
・参照レンズ面精度:λ/20(球面及び平面)
・光源:He-Neレーザ(632.8nm)レーザクラス2
・倍率:デジタルズーム(1~3倍)
・本体外形寸法:360(W)×260(D)×933(H)mm
・電源仕様:100-240V AC/50-60Hz
・位相算出方式:干渉縞の形状(縞2値化方式)
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【所在地】〒163-0914東京都新宿区西新宿2-3-1新宿モノリス
【電話番号】03-3340-2078 【FAX番号】03-3340-2322
