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（株）日本レーザー

ピエゾシステムイエナ社の光学機器〈顕微鏡検査〉（採用例2）

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ピエゾシステムイエナ社の光学機器
〈アプリケーション例〉

このセクションでは顕微鏡関連のピエゾアプリケーションの概要と推奨システムについて記述します。応用例は、サンプルの位置決め、走査型AFM、ラマン、SNOM、電子ビーム、マイクロレンズ/マイクロ対物レンズの位置決め等です。

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（株）日本レーザー

【所在地】〒169-0051東京都新宿区西早稲田２－１４－１

【電話番号】03-5285-0861 【FAX番号】03-5285-0860

【URL】https://www.japanlaser.co.jp/

製品選定でお悩みの際は、日本レーザーまでご連絡ください。　03-5285-0861

			（採用例）赤外波長での走査型近接場光学顕微鏡
			（採用例）ピエゾシステムスキャナを用いたナノライフAFM システム
			顕微鏡アプリケーション向け製品

ピエゾシステムイエナ社の光学機器〈アプリケーション〉
－顕微鏡検査－

アプリケーション	推奨システム
サンプル位置決め	X軸ステージ　PXシリーズ XYZ軸ステージ　TRITOR シリーズ Z軸ステージ　PZシリーズケース付きスタックアクチュエータ　PAシリーズ NanoX 高速ポジショナ
スキャニングAFM、ラマン、走査型近接場光顕微鏡、電子ビーム	XYZ軸ステージ　TRITOR シリーズ XY軸ステージ　PXYシリーズフォーカスレンズポジショナ　MIPOSシリーズ NanoX 高速ポジショナ
マイクロレンズ、マイクロ対物レンズ位置決め	フォーカスレンズポジショナ　MIPOSシリーズ

ピエゾシステムスキャナを用いたナノライフAFM システム

スペイン Nanotec Eléctronica S.L.社は、AFM顕微鏡に関する革新的なコンセプトを開発しました。このプラットフォームを用いて、旧来の光学顕微鏡（倒立型蛍光顕微鏡）やラマン顕微鏡で、光学イメージと同時にAFMイメージを生成することができます。また生成されたイメージは同時に表示できます。高速・高解像度の要求に応えるため、SPMシステム "Nanolife“ にはpiezosystem jena社のピエゾ素子(PXY 80 D12)が使用されています。
以下の画像はDr. Elena López-ElviraによりICMM-CSIC (スペイン・マドリード)にて革新的AFMプラットフォームを用いて撮影されたものです。

大気中における線維芽細胞のAFM画像
トポグラフィAFM画像。60x60μm。Z軸スケール 1.8μm。


	ノンコンタクトモード		コンタクトモード

大気中におけるP3OTポリマーのAFM画像
トポグラフィAFM（左）と周波数シフトイメージ（右）。3.75x3.75μm。Z軸スケール 32 nm。

緩衝液内のDNAのAFMイメージ（ノンコンタクトモード）
振幅変調―動的走査力顕微鏡（+PLL）
トポグラフィAFM（左）と周波数シフトイメージ（右）。1x1μm。Z軸スケール3nm。

周波数変調―動的走査型力変調
トポグラフィAFM（左）と散逸像（右）。1x1μm。Z軸スケール3nm。

緩衝液内の単細胞の光学及びAFMイメージ（ノンコンタクトモード）
AFMトポグラフィ（右）。35x35μm。Z軸スケール360nm

ピエゾシステムイエナ社の光学機器〈アプリケーション例〉


ビームシャッター	光ファイバ	ライフサイエンス（生命科学）

マテリアルサイエンス（物質科学）	機械工学	計量学

顕微鏡検査	ナノ位置決め	光学

半導体	バルブ技術	オートフォーカス装置（自動焦点装置）