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製品詳細
オリンパス(株)
透過波面測定干渉計 KIF-PU
その他 その他理化学関連機器 光 機構部品 その他透過波面測定干渉計
光ピックアップ光学部品用の生産ラインでの透過波面測定に最適 ピエゾ駆動のステージによる自動調整機構と専用ソフトウェアを標準装備。オペレータの熟練によらず安定した測定が可能です。 405nm/658nm帯光学素子の光学性能評価が可能。 直線/円偏光切替が可能。 生産現場での使用環境を考慮した小型で高剛性な本体は、場所を取らず、迅速な品質検査に対応します。 平面用測定機KIF-PU-Fもご用意
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